TN-254紫外线强度计频谱范围:220~275nm TN254紫外照度计中心波长:254nm 量程:1uW/cm2~40.00mW/cm2 精度:±(4% +1dgt) 自动记录 调零 20点记忆 取样时间0.3秒 背光LCD双显示 操作温度:0~50°C
TN254紫外照度计简介 工业:焊接时监测蓝紫射线辐射;阳光辐射监测;UV;图形艺术;UV EPROM擦除;光刻曝光 ;实验室:风化研究;UV;病毒学;微生物遗传学;DNA研究;普通实验室用途;
苏公网安备 32070502010593号